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IAS晶圆金属异物分析 LA-GED-MSAG-ICP-MS_J
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供求NO.
442977
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销售对象
技术
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产品分类
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加工分类
其他
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制品用途
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对应材质
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说明
在大气中发射飞秒雷射，用喷射器吸出释放出的微粒，用GED取代空气和Ar，可以直接用ICP-MS分析Ar气体中的微粒。
•传统的LA-ICP-MS无法直接分析晶片样品，而LA-GED-MSAG-ICP-MS实现了这一目标。
•VPD-ICP-MS的某些元素因药液的种类而难以回收，而LAICP-MS则没有这种问题。
•通过使用MSAG，可以通过标准添加法进行高精度的定量分析。
•可检测约10 μm斑点直径的金属杂质信息。
•可检测直径约20nm的微粒子。
•增加焦距深度可实现深度方向分析。 -
参考价格
6,000 RMB
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参考价格备注
价格仅供参考，由于受国际汇率、运费等不确定因素影响，下单前需重新确认，望理解。
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相关资料
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参考交货期
6-8周
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交易条件
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相关URL
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更新日期
2025-03-26
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XXXXXXXXX公司
